Fundamentos de Microscopia Electrónica de Transmisión y Barrido

Del 1 al 12 de abril del corriente año tuvo lugar en el Centro de Microscopia del IFIR, CCT Rosario, el primero curso sobre Técnicas Avanzadas en Microscopía Electrónica de Transmisión y Barrido (STEM). Dicho evento fue organizado por el Centro de Microscopia del IFIR y subvencionado por el Sistema Nacional de Microscopía dependiente de la Secretaría de Articulación Científico Tecnológica (SACT) de la Secretaria de Gobierno de Ciencia, Tecnología e Innovación Productiva de Argentina.El curso, sin costo alguno para los participantes, tuvo un crédito horario de 80hs distribuido entre clases teóricas y prácticas en el laboratorio

La motivación principal de este curso fue capacitar a profesionales en Ciencia de Materiales en las potencialidades de la técnica STEM, desde el punto teórico–práctico, en el recién instalado Microscopio Electrónico JEM 2100plus, perteneciente al Centro de Microscopia del IFIR. Cabe recordar que el mismo fue adquirido gracias a la aprobación de un Proyecto de la Agencia Santafesina de Ciencia, Tecnología e Innovación para EQUIPAMIENTO DE ALTA COMPLEJIDAD dentro del Programa de apoyo a la investigación Científica y Transferencia de Tecnologías al sistema socio - productivo 2015. Es importante destacar, que parte del curso estuvo a cargo de un experto internacional en la técnica STEM, el Prof. Dr. Daniel Ugarte de la Universidad de Campinas, Brasil. El financiamiento para la estadía de dicho profesional fue obtenido gracias al apoyo de la SACT y de la firma JEOL.