Difractometría de rayos X específica, con movimiento orientacional permitido por el uso de cuna de Euler. Se provee una o más figuras de polos según necesidad debido a la simetría de la muestra cristalográfica.

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Descripción: Se utilizan métodos de inversión para calcular funciones de distribución cristalográfica a partir de texturas medidas por métodos diversos (rayos X, neutrones, EBSD, etc). Los métodos de cálculo se basan en desarrollo de armónicos esféricos y/o de entropía mínima (WIMV).

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Descripción: Determinación cualitativa de las fases presentes en un compuesto mediante el análisis de su difractograma por medio de softwares ad-hoc y superposición cualitativa de picos extraídos de la base ICDD.

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Esta técnica se basa en el uso de una fuente de rayos X (tubos de rayos X de Cu, Cr, etc.) para estudiar muestras sólidas o líquidas, principalmente materiales cristalinos aunque también se pueden estudiar amorfos. El equipamiento cuenta con una fuente de rayos X, goniometría de posicionamiento y detector. Todo controlado por computación y software de análisis. Además una cámara de temperatura permite la variación en temperatura con atmósfera controlada desde temperatura ambiente hasta 1000 ºC.

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Esta técnica se basa en el uso de una fuente de rayos X (tubos de rayos X de Cu, Cr, etc.) para estudiar muestras sólidas o líquidas, principalmente materiales cristalinos aunque también se pueden estudiar amorfos. El equipamiento cuenta con una fuente de rayos X, goniometría de posicionamiento y detector. Todo controlado por computación y software de análisis.

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