Esta técnica se basa en el uso de una fuente de rayos X (tubos de rayos X de Cu, Cr, etc.) para estudiar muestras sólidas o líquidas, principalmente materiales cristalinos aunque también se pueden estudiar amorfos. El equipamiento cuenta con una fuente de rayos X, goniometría de posicionamiento y detector. Todo controlado por computación y software de análisis.

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